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聚合物锂电池内阻测试仪电芯内阻测试仪数码电池内阻仪
  • 聚合物锂电池内阻测试仪电芯内阻测试仪数码电池内阻仪
  • 一、概述聚合物锂电池内阻测试仪电芯内阻测试仪数码电池内阻仪电池内阻测试仪是用于测量电池内部阻抗和电池酸化薄膜破损程度的仪器,以下简称仪器。青海快3_[官网首页]它是对被测对象施加1KHz交流信号,通过测量其交流压降而获得其内阻。(它不同于多用表测量电阻的原理,它所测量的值是毫欧级,而多用表测量的值是欧姆级;且多用表只能测无电源对象的阻值,而内阻仪即可测无电源对象的阻值,也可测有电源对象的阻值,所以两者不得等同)利用内阻阻值的大小来判断电池的劣化状态,(一般来说)其阻值越小电池的性能越好。因此,采用内阻进行测量电池的方法却
  • 2020-01-12 18:47  [广东深圳市]
  • 深圳宏大超声波技术有限公司  [未核实]
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CS-0918电池电压分选仪
  • CS-0918电池电压分选仪
  • CS-0918电池电压分选仪操 作 说明一, 仪器外观二, 设置方法三, 技术参数四, 注意事项五, 维修指南一, 仪器外观深圳宏大超声波技术有限公司电话0755-29195916 13714233283二,设置方法1,屏幕显示:上面显示电压V=0.00V,下面一行前面三位数显示下限电压3.70V,中间显示三位数上限电压4.20V,后面三位数显示模式状态ON1,OFF,ON2。2,电压设置方法:前面一组上下箭头为设置下限电压按钮,上增下减,后面一组上下箭头为设置上限电压,上增下减。3,模式设置:按模式按钮
  • 2019-08-24 12:07  [广东深圳市]
  • 深圳宏大超声波技术有限公司  [未核实]
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CS-200智能电池内阻测试仪
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实验室专用半导体分立器件高精度选型测试设备
  • 实验室专用半导体分立器件高精度选型测试设备
  • 公司专注于研发、生产和销售半导体封装、测试设备。现已成为国内电力电子行业知名的测试方案供应商。公司以自主研发生产的“轨道机车半导体测试系统”系列产品为主导,在此基础上相继推出全自动大功率IGBT参数测试系统,分立器件综合测试仪,功率器件图示系统,晶体管图示仪,MOS动静态测试测试仪,晶闸管测试仪,雪崩、浪涌、高温阻断、高温反偏、栅电荷测试系统等系列产品。青海快3_[官网首页]广泛应用于科研院所、能源、电力电子、交通、船舶制造、高校等诸多领域。分立器件测试设备测试可测试市面上常见的18类分立器件静态全参数,如一下参数;1、二极管
  • 2019-08-14 16:11  [江苏苏州市]
  • 德谊邦电子科技(苏州)有限公司  [未核实]
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晶闸管阻断特性测试仪(易恩电气)
  • 晶闸管阻断特性测试仪(易恩电气)
  • 一、概述DBC-028-1030型晶闸管阻断特性测试仪是可用于测量晶闸管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM以及二极管的VRRM、IRRM参数以及其它半导体器件的相关参数测试的专业设备。它的测试方法符合GB/JB/T7626-94标准。该测试台具有漏电流自动保护功能,过电压自动保护功能。阻断电压和漏电流均采用数字表显示,读数准确、直观。青海快3_[官网首页]二、技术参数:1. 输出峰值电压:0.20-10.00KV ,分辨率:10V 精度3%±10V 。低档0.02-2KV 分辨率:0.1KV 精度3%±0.01KV高档2
  • 2019-08-14 16:11  [江苏苏州市]
  • 德谊邦电子科技(苏州)有限公司  [未核实]
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晶闸管触发特性、维持电流测试仪
  • 晶闸管触发特性、维持电流测试仪
  • 一.概述DBC-032 型晶闸管触发特性、维持电流测试仪是测试晶闸管门极参数的重要测试设备。测试单元符合国标 GB/JB/T7626-94。本测试设备可用以测试晶闸管的 VGT、IGT、 IH 参数该测试台是专为测试晶闸管的门极参数而设计的,是晶闸管出厂检测的必备检测设备。青海快3_[官网首页]该测试台具有测试精度高、测试操作方便、稳定性好等优点。二.技术指标1.门极触发电压:高档 0.20~5.00V±5%,分辨率:0.02V低档 0.10~2.50V±5%,分辨率:0.01V测试频率:单次.2.触发电流:高档 1-500m
  • 2019-08-14 16:11  [江苏苏州市]
  • 德谊邦电子科技(苏州)有限公司  [未核实]
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高温反偏试验台
  • 高温反偏试验台
  • 产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态测试(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)动态测试(包括Turn_ONOFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)环境老化测试(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)热特性测试(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件ST-HTXB_X功率器件环境老化试验台可测试 Si
  • 2019-08-13 16:37  [陕西西安市]
  • 西安天光测控技术有限公司  [未核实]
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